
SRM 1134低合金高硅鋼標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST)
簡要描述:SRM 1134低合金高硅鋼標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST)旨在用于評估和校準(zhǔn)化學(xué)和儀器分析方法
所屬分類:美國NIST標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
更新時間:2024-12-12
廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
品牌 | NIST/美國 | 貨號 | SRM 1134 |
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規(guī)格 | disk | 供貨周期 | 現(xiàn)貨 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工 |
SRM 1134低合金高硅鋼標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST) 是一種在退火條件下發(fā)布的低合金鋼,含有大量硅。 SRM 1134 旨在用于評估和校準(zhǔn)化學(xué)和儀器分析方法。 SRM 1134 的一個單元由一個直徑約 31 毫米、厚 19 毫米的圓盤組成。
認(rèn)證質(zhì)量分?jǐn)?shù)值:
被測量是 SRM 1134 中每種成分的認(rèn)證值。表 1 中以質(zhì)量分?jǐn)?shù)形式報告了 10 種成分的認(rèn)證值 [1]。賦值類別基于 NIST 對化學(xué)參考材料 [2] 使用的術(shù)語和模式的定義。 NIST 認(rèn)證值是 NIST 對其準(zhǔn)確性有最高置信度的值,因為所有已知或可疑的偏差來源都已被調(diào)查或考慮在內(nèi)。認(rèn)證值是根據(jù) NIST 和合作實驗室進(jìn)行的分析結(jié)果對真實值的當(dāng)前最佳估計。計量溯源性是導(dǎo)出的 SI 單位的質(zhì)量分?jǐn)?shù)(以百分比表示)。
參考質(zhì)量分?jǐn)?shù)值:
被測量是表 2 中報告的鋁的參考值。參考值是對真實值的最佳估計的非認(rèn)證值;但是,該值不符合 NIST 認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn),并且提供了相關(guān)的不確定性,可能不包括所有來源不確定性 [2]。計量溯源性是導(dǎo)出的 SI 單位的質(zhì)量分?jǐn)?shù)(以百分比表示)。信息來評估與該值相關(guān)的不確定性。信息值不能用于建立計量溯源性。
認(rèn)證到期:
SRM 1134低合金高硅鋼標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST) 的認(rèn)證在規(guī)定的不確定性范圍內(nèi)無限期有效,前提是按照本證書中給出的說明處理和存儲 SRM(參見“使用說明")。因此,不需要定期重新校準(zhǔn)或重新認(rèn)證此 SRM。如果 SRM 損壞、污染或以其他方式修改,則認(rèn)證無效。
SRM 認(rèn)證的維護(hù):
NIST 將在其認(rèn)證期間監(jiān)控此材料。如果在本證書到期前發(fā)生影響認(rèn)證的實質(zhì)性技術(shù)變更,NIST 將通知購買者。注冊(見附件,或在線注冊)將有助于通知。
使用說明
測試表面是與標(biāo)記表面相對的一側(cè),其中包括 SRM 編號。該裝置的整個厚度都經(jīng)過認(rèn)證。但是,警告用戶在使用 X 射線熒光光譜法時不要測量厚度小于 2 毫米的圓盤。每個封裝的磁盤都是通過使用銑削完成測試表面來準(zhǔn)備的機(jī)器。用戶必須為每種分析技術(shù)確定正確的表面處理程序。提醒用戶在重修磁盤或進(jìn)行額外拋光時要小心,因為這些過程可能會污染表面。 NIST 發(fā)現(xiàn)在表面磨削過程中必須經(jīng)常更換砂紙。用過的紙失去了去除鋼材表面污染物的能力。不使用時,應(yīng)將材料存放在其原始容器中,置于陰涼干燥的地方。使用實心圓盤和由圓盤制備的芯片測試該材料。認(rèn)證值被認(rèn)為代表了材料的總體平均成分。