SRM  1230 高溫合金 A286標(biāo)準(zhǔn)品NIST 為圓盤形式，主要用于光發(fā)射和 X 射線光譜法。 SRM 1230 的一個單元由一個大約 32 mm × 19 mm 的圓盤組成。

認(rèn)證值：

被測量是 SRM 1230 中每種成分的認(rèn)證值。認(rèn)證值在表 1 中提供，并以質(zhì)量分?jǐn)?shù)報告 [1]。隨數(shù)值列出的不確定度是擴(kuò)展不確定度，U = kuc，基于 95% 置信水平 [2]，根據(jù) ISO/JCGM 指南 [3] 中的方法計算。 NIST 認(rèn)證值是 NIST 對其準(zhǔn)確性具有最高置信度的值，因為所有已知或可疑的偏差來源都已被調(diào)查或考慮 [4]。認(rèn)證值是根據(jù) NIST 和合作實(shí)驗室進(jìn)行的分析結(jié)果對“真實(shí)"值的當(dāng)前最佳估計。

用于確定成分的測試方法在附錄 A 和隨附的關(guān)鍵字中確定。

計量溯源性是導(dǎo)出的 SI 單位的質(zhì)量分?jǐn)?shù)（以百分比表示）。

參考值：

被測量是表 2 中提供的鈮和鎢的參考值，通過規(guī)定的方法確定。參考值在表 2 中給出。參考值是非認(rèn)證值，是當(dāng)前對真實(shí)值的最佳估計；但是，這些值不符合 NIST 的認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)，并且提供了相關(guān)的不確定性，可能不包括不確定性的所有組成部分 [4]。

隨數(shù)值列出的不確定度是基于 95% 置信水平 [4] 的擴(kuò)展不確定度，根據(jù) ISO/JCGM 指南 [3] 中的方法計算。計量溯源性是導(dǎo)出的 SI 單位的質(zhì)量分?jǐn)?shù)（以百分比表示）。

信息值：

表 3 中提供了其他成分的信息值。信息值被認(rèn)為是 SRM 用戶感興趣的值，但沒有足夠的信息來評估與該值相關(guān)的不確定性。它們旨在提供有關(guān)矩陣的附加信息。

信息值不能用于建立計量溯源性。

認(rèn)證到期：

SRM  1230 高溫合金 A286標(biāo)準(zhǔn)品NIST 的認(rèn)證在規(guī)定的測量不確定度內(nèi)無限期有效，前提是按照本證書中給出的說明處理和存儲 SRM（參見“使用說明"）。不需要定期重新認(rèn)證此 SRM。如果 SRM 損壞、污染或以其他方式修改，則認(rèn)證無效。

SRM 認(rèn)證的維護(hù)：

NIST 將在其認(rèn)證期間監(jiān)控此 SRM。如果發(fā)生影響認(rèn)證的實(shí)質(zhì)性技術(shù)變化，NIST 將通知購買者。注冊（見附件或在線注冊）將有助于通知。

使用說明

測試面是與標(biāo)有 SRM 編號和菱形 NBS 標(biāo)志的表面相對的一側(cè)。

該裝置的整個厚度都經(jīng)過認(rèn)證。每個封裝的磁盤都是通過使用銑床完成測試表面來準(zhǔn)備的。用戶必須為每種分析技術(shù)確定正確的表面處理程序。提醒用戶在重修磁盤或進(jìn)行額外拋光時要小心，因為這些過程可能會污染表面。材料應(yīng)存放在其原始容器中，置于陰涼干燥的地方。使用由相同材料制備的實(shí)心盤和芯片測試該材料。認(rèn)證值被認(rèn)為代表了材料的總體平均成分。